業績

1.光路差が部位毎に異なる時間変動を持つ状況での波長シフト干渉計を用いる粗面の3次元形状計測
 安達 正明,日本実験力学会 18(1) 10 – 17, 2018
2.波長シフト干渉計を用いる昇温度下での段差を持つ粗面の3次元形状計測
 安達 正明,精密工学会誌 83(10) 949 – 955, 2017
3.光路差がランダムに変動する状況下での波長シフト干渉計を用いた粗面の3次元形状計測
 安達 正明, 佐々木 祐理,精密工学会誌 82(4) 384 – 389, 2016

特許
1.特許第6194813号 振動環境下での波長走査を用いた形状計測方法及び装置
安達 正明